Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Dublin Core Títol Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications Autor Greg Haugstad Matèria Chemistry and Materials Science Analytical Chemistry Editor Wiley Data de publicació 2012 Identificador 9781118360668 Font https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118360668 Etiquetes Analytical Chemistry, Chemistry and Materials Science Col·lecció Chemistry and Materials Science ← ítem anterior Ítem següent →
