Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light Dublin Core Títol Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light Autor Pierre-Richard Dahoo Matèria Physical Sciences and Engineering Nanotechnology Editor Wiley Data de publicació 2016 Identificador 9781119329633 Font https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119329633 Etiquetes Nanotechnology, Physical Sciences and Engineering Col·lecció Physical Sciences and Engineering ← ítem anterior Ítem següent →
