Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies Dublin Core Títol Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies Autor Alvin W. Strong Matèria Physical Sciences and Engineering Electrical & Electronics Engineering Editor Wiley Data de publicació 2009 Identificador 9780470455265 Font https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9780470455265 Etiquetes Electrical & Electronics Engineering, Physical Sciences and Engineering Col·lecció Physical Sciences and Engineering ← ítem anterior Ítem següent →