Thin Film Analysis by X-Ray Scattering Dublin Core Títol Thin Film Analysis by X-Ray Scattering Autor Mario Birkholz Matèria Physical Sciences and Engineering Materials Science Editor Wiley Data de publicació 2005 Identificador 9783527607594 Font https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/3527607595 Etiquetes Materials Science, Physical Sciences and Engineering Col·lecció Physical Sciences and Engineering ← ítem anterior Ítem següent →
