Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1 - Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1 - Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Autor
Pierre-Richard Dahoo
Matèria
Editor
Wiley
Data publicació
2021
Identificador
9781119808244
Col·lecció
Accés
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244