Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 - Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2 - Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method
Autor
Pierre-Richard Dahoo
Matèria
Editor
Wiley
Data publicació
2021
Identificador
9781119818984
Col·lecció
Accés
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119818984