Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Autor
Budhika G. Mendis
Matèria
Editor
Wiley
Data publicació
2018
Identificador
9781118696545
Col·lecció
Accés
https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781118696545