Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Autor
Xiong Du, Jun Zhang, Gaoxian Li, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Rui Du
Matèria
Editor
Springer Nature
Data publicació
2022
Identificador
9789811931321
Col·lecció
Accés
https://link.springer.com/openurl?genre=book&isbn=978-981-19-3132-1