Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1 - Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties Dublin Core Títol Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1 - Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties Autor Pierre-Richard Dahoo Matèria Physical Sciences and Engineering Nanotechnology Editor Wiley Data de publicació 2021 Identificador 9781119808244 Font https://onlinelibrary.wiley.com/doi/book/10.1002/9781119808244 Etiquetes Nanotechnology, Physical Sciences and Engineering Col·lecció Physical Sciences and Engineering ← ítem anterior Ítem següent →
